કુદરતી આબોહવામાં, સૌર કિરણોત્સર્ગ કોટિંગ વૃદ્ધત્વનું મુખ્ય કારણ માનવામાં આવે છે, અને વિન્ડો ગ્લાસ હેઠળ એક્સપોઝર રેડિયેશનનો સિદ્ધાંત સમાન છે.તેથી, કૃત્રિમ આબોહવા વૃદ્ધત્વ અને કિરણોત્સર્ગના કૃત્રિમ સંપર્ક માટે સૌર કિરણોત્સર્ગનું અનુકરણ કરવું મહત્વપૂર્ણ છે.ઝેનોન આર્ક કિરણોત્સર્ગ સ્ત્રોત તે ઉત્પન્ન કરેલા કિરણોત્સર્ગના સ્પેક્ટ્રલ વિતરણને બદલવા માટે બે અલગ-અલગ પ્રકાશ ફિલ્ટરિંગ સિસ્ટમમાંથી એક પસાર કરે છે, અલ્ટ્રાવાયોલેટ અને દૃશ્યમાન સૌર કિરણોત્સર્ગના સ્પેક્ટ્રલ વિતરણનું અનુકરણ કરે છે, અને અલ્ટ્રાવાયોલેટ અને દૃશ્યમાન સૌર કિરણોત્સર્ગ 3 મીમી દ્વારા સ્પેક્ટ્રલ વિતરણનું અનુકરણ કરે છે. જાડા વિન્ડો કાચ.

બે સ્પેક્ટ્રાનું ઉર્જા વિતરણ 400mm તરંગલંબાઇની નીચેની અલ્ટ્રાવાયોલેટ પ્રકાશ શ્રેણીમાં ફિલ્ટર દ્વારા ફિલ્ટર કરાયેલા પ્રકાશ કિરણોત્સર્ગના વિકિરણ મૂલ્ય અને સ્વીકાર્ય વિચલનનું વર્ણન કરે છે.વધુમાં, CIE No.85 800nm ​​સુધીની તરંગલંબાઇ સાથે ઇરેડિયન્સ સ્ટાન્ડર્ડ ધરાવે છે, કારણ કે ઝેનોન આર્ક રેડિયેશન આ રેન્જમાં સૌર કિરણોત્સર્ગનું વધુ સારી રીતે અનુકરણ કરી શકે છે.

એક્સપોઝર સાધનોની પરીક્ષણ પ્રક્રિયા દરમિયાન, ઝેનોન આર્ક અને ફિલ્ટર સિસ્ટમના વૃદ્ધત્વને કારણે વિકિરણ બદલાઈ શકે છે.આ ફેરફાર ખાસ કરીને અલ્ટ્રાવાયોલેટ શ્રેણીમાં થાય છે, જે પોલિમર સામગ્રી પર સૌથી વધુ ફોટોકેમિકલ અસર ધરાવે છે.તેથી, માત્ર એક્સપોઝર સમયને માપવા માટે જ જરૂરી નથી, પણ 400nm ની નીચેની તરંગલંબાઇની શ્રેણી અથવા 340nm જેવી નિર્દિષ્ટ તરંગલંબાઇ પર એક્સપોઝર રેડિયેશન ઊર્જાને પણ માપવા માટે, અને આ મૂલ્યોનો ઉપયોગ કોટિંગ વૃદ્ધત્વ માટે સંદર્ભ મૂલ્યો તરીકે કરો.

કોટિંગ્સ પર આબોહવાની પરિસ્થિતિઓના વિવિધ પાસાઓની અસરોનું ચોક્કસ અનુકરણ કરવું અશક્ય છે.તેથી, ઝેનોન લેમ્પ ટેસ્ટ ચેમ્બર સ્ટાન્ડર્ડમાં, કૃત્રિમ આબોહવા વૃદ્ધત્વ શબ્દનો ઉપયોગ કુદરતી આબોહવા વૃદ્ધત્વને અલગ પાડવા માટે થાય છે.ઝેનોન લેમ્પ ટેસ્ટ ચેમ્બર સ્ટાન્ડર્ડમાં ઉલ્લેખિત સિમ્યુલેટેડ વિન્ડો ગ્લાસ ફિલ્ટર કરેલ સોલાર રેડિયેશન ટેસ્ટને કૃત્રિમ રેડિયેશન એક્સપોઝર કહેવામાં આવે છે.